首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:从到   被引次数:从到   他引次数:从到 提示：输入*表示无穷大
全文获取类型
  收费全文   11篇
  免费   0篇
专业分类
教育   11篇
出版年
  2014年   2篇
  2011年   3篇
  2009年   1篇
  2008年   1篇
  2007年   2篇
  2005年   1篇
  2004年   1篇
排序方式： 共有11条查询结果，搜索用时 0 毫秒
11.
基于全息二次曝光法的压电陶瓷逆压电效应测定   总被引：1，自引：0，他引：1  
论述二次曝光全息干涉计量的原理,分析干涉条纹与物体变形量的关系．利用全息二次曝光法对压电陶瓷的逆压电效应进行测定．实验结果与相关文献一致,表明该方法用于测定材料的逆压电效应是可行的．  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号