首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
文章检索
  按 检索   检索词:      
出版年份:   被引次数:   他引次数: 提示:输入*表示无穷大
  收费全文   555篇
  免费   5篇
  国内免费   3篇
教育   372篇
科学研究   126篇
体育   10篇
综合类   19篇
文化理论   5篇
信息传播   31篇
  2024年   4篇
  2023年   38篇
  2022年   18篇
  2021年   30篇
  2020年   15篇
  2019年   20篇
  2018年   6篇
  2017年   10篇
  2016年   12篇
  2015年   16篇
  2014年   23篇
  2013年   26篇
  2012年   26篇
  2011年   39篇
  2010年   31篇
  2009年   41篇
  2008年   48篇
  2007年   40篇
  2006年   17篇
  2005年   23篇
  2004年   15篇
  2003年   13篇
  2002年   13篇
  2001年   11篇
  2000年   6篇
  1999年   7篇
  1998年   6篇
  1997年   1篇
  1996年   2篇
  1995年   2篇
  1994年   1篇
  1993年   2篇
  1992年   1篇
排序方式: 共有563条查询结果,搜索用时 15 毫秒
101.
技能考核项目的设计至少应符合三个要求:一是考核项目应是综合反映职业活动的典型任务;二是考核项目应能综合反映考核对象对所考  相似文献   
102.
采用内隐联结测验(IAT)对大学生内隐自尊的情感成分和认知成分进行测量,采用《亲密关系评价量表》(RRF)对其恋爱关系满意度进行测量,从而研究大学生内隐自尊的不同成分与恋爱满意度的关系。结果发现,大学生内隐自尊的情感成分和认知成分都与恋爱满意度之间存在着显著的正相关。  相似文献   
103.
联结主义理论具有平行信息处理特征、权重特征、无规则特征和学习功能特征等。大学英语教师可以通过字词联想、词义图、类比法、以及通过学生先前掌握的母语文化涵义进行词汇教学等策略来有效地教授新的英语词汇。  相似文献   
104.
本期问题初313设a、b∈R_+,且1/(a~2+2)+1/(b~2+2)=1/3.证明:1/a+1/b≥1.初314如图1,⊙O是△ABC的内切圆,D、E、M是切点,联结MO并延长与DE、⊙0分别交于点K、F,联结AF、AK并延长分别与BC交于点N、L.证明:L是MN的中点.  相似文献   
105.
逄路平 《中等数学》2012,(8):2-4,18
(本讲适合初中)形如a+b=c的线段关系可称为线段和或线段差问题.比较简单的证明线段和(或差)的问题,一般可以考虑使用截长法或补短法.所谓截长法,就是把"和线段""掐开"成两段,证明它们分别与两条"部分线段"相等;所谓补短法,就是把两条"部分线段"中的一条延长,证明加长线段等于和线段.两种方法都是把问题转化为线段相等.  相似文献   
106.
本文首先阐述了冗余词的含义及简单分类,并实验调查了其影响因素,实验一考察有国外学习经历的汉英双语者所具有的母语和二语知识对于汉译英过程中冗余词现象的影响,实验二考察课堂条件下我国的英语学习者二语知识积累经历对于汉译英过程中冗余词现象的影响.最后,文章结合联结主义理论和心理词汇理论进行讨论.  相似文献   
107.
中式英语是中国的英语学习者普遍存在的问题,也是大家广为探讨的问题。长期以来,它不仅是中国的英语学习者语言习得中的障碍,而且也给与英语本族语的交流带来了许多困难。如不认识它的形成原因,就很难加以注意并纠正。  相似文献   
108.
数字认知领域的研究者们普遍认为,人脑拥有空间-数字联结效应,即在人脑两侧顶叶中存在着一条从左到右的心理数字线(MNL)。本文从跨文化角度检验了这些实验结果,认为这些理论的依据并不充分。最后得出结论:MNL(即空间-数字联结)使用了以文化和历史为中介的较高等级的认知加工机制(如虚拟动作、概念映射和外部象征性的媒介),这需要从上到下的加工机制,并不是自然选择的结果。  相似文献   
109.
建筑电气等电位联结是目前建筑安全工程易忽略和易发生事故的系统之一,从等电位联结的现状入手,对等电位联结的危害、定义、分类、构造做法做了全面的描述,并针对性的从管理层和施工层提出了等电位联结质量控制措施.  相似文献   
110.
在卫生间作局部等电位联结可使卫生间处于同一电位。防止出现危险的接触电压,有效的保证了人身安全。  相似文献   
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号