新型高品质因数S形缝隙缺陷地结构(英文)     

朱轶智  张晓娟  方广有 《东南大学学报》2009,25(4):431-434

针对传统的缺陷地结构品质因数低、不足以产生尖锐的谐振特性问题, 提出了一种新颖的S形缝隙缺陷地结构.与传统的缺陷地结构相比, 该结构具有更高的品质因数、相对更简单而紧凑的布局和更陡峭的阻带特性. 通过分析其传输特性提取了该结构的等效电路模型, 推导了其结构参数的设计方程, 研究了该结构的传输特性随结构参数变化的规律, 并总结了设计该S形缝隙缺陷地结构的经验方法. 根据此方法设计加工了一个中心频率为4.64 GHz的S形缝隙缺陷地结构样品, 其品质因数高达39.66, 尺寸大小仅为5.00mm×1.40mm, 谐振带陡峭而通带插入损耗小, 测量结果和仿真结果相吻合, 从而验证了该S形缝隙缺陷地在实际工程上的适用性.  相似文献