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自适应粒子群算法在模拟电路故障诊断中的应用
引用本文:郑木刚,沈昱明.自适应粒子群算法在模拟电路故障诊断中的应用[J].教育技术导刊,2017,16(2):122-124.
作者姓名:郑木刚  沈昱明
作者单位:上海理工大学 光电信息与计算机工程学院,上海 200093
摘    要:针对模拟电路故障诊断中存在的无法早期诊断和精确诊断的问题,提出了一种自适应粒子群算法并将其应用于模拟电路故障诊断中。试验结果表明,该算法能实现模拟电路早期软故障的精确诊断,且与其它算法相比,该自适应粒子群算法具有较强的全局寻优能力,且收敛速度快,能够更有效地解决模拟电路故障诊断问题。

关 键 词:模拟电路  故障诊断  自适应粒子群算法  
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