| 几种新型折射率测量方法的原理与应用 |
| |
| 引用本文： | 李志鸿.几种新型折射率测量方法的原理与应用[J].中国科技信息,2007(20):287-288,301. |
| |
| 作者姓名： | 李志鸿 |
| |
| 作者单位： | 国防科技大学光电科学与工程学院,410073 |
| |
| 基金项目： | 在本文写作过程中,物理实验创新基地的何焰蓝教员、卓尚攸教员进行了热心的指导和帮助,住此深表感谢. |
| |
| 摘 要： | 折射率是重要的光学参量之一。随着CCD测量、光纤传感、光谱分析以及计算机技术的发展，新的折射率测量方法不断产生。文章介绍了三种应用上述技术，分别基于几何信息、光强、共振波长调制的新型折射率测量方法。
|
| 关 键 词： | 折射率 光纤传感 光谱分析 调制 计算机 |
New Methods for Measuring Reflective Index |
| |
| LI Zhihong.New Methods for Measuring Reflective Index[J].CHINA SCIENCE AND TECHNOLOGY INFORMATION,2007(20):287-288,301. |
| |
| Authors: | LI Zhihong |
| |
| Institution: | School of optic-electric science and engineering,National University of Defense Technology,Changsha 410073 |
| |
| Abstract: | Reflective index is one important optical parameter, With the development of CCD, optical fiber sensor, spectrum analysis and computer technology, new methods for measuring reflective index are created, some are introduced here. |
| |
| Keywords: | CCD |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ |
|
