|
|||||
|
|
| FPGA设计中竞争冒险问题的研究 | |
| 引用本文： | 张晴.FPGA设计中竞争冒险问题的研究[J].实验室研究与探索,2003,22(1):47-49,62. |
| 作者姓名： | 张晴 |
| 作者单位： | 上海交通大学,电子信息与电气工程学院,电工及电子技术实验中心,上海,200240 |
| 摘 要： | 以现场可编程门阵列(以下简称FPGA)在设计中由于其内部构成，容易引起竞争问题。以我们在实验教学中的应用与实践为主线，详细介绍了消除竞争冒险的各种方法。 |
| 关 键 词： | 现场可编程门阵列 实验教学 FPGA设计 竞争冒险现象 |
| 文章编号： | 1006-7167(2003)01-0047-04 |
Research of the Competition Risk Problem in Field Program Gates Array(FPGA) Circuits Design |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | field program gates array (FPGA) competition risk glitch |
| 本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录！ | |