XQF—4A金相图像分析仪在测量晶粒度、渗碳层中的应用 |
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引用本文: | 张皖菊.XQF—4A金相图像分析仪在测量晶粒度、渗碳层中的应用[J].马钢职工大学学报,2001,11(3):36-39. |
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作者姓名: | 张皖菊 |
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作者单位: | 安徽工业大学冶金工程系,安徽马鞍山243002 |
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摘 要: | 介绍XQF-4A金相图像分析仪的原理及功能,按常规方法和金相图像分析仪的相关软件分别测量了晶粒度和渗碳层,结果表明:图像分析具有相当可靠性、准确性、科学性,当结果处于边缘时,可借助于图像分析仪来判断。
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关 键 词: | XQF-4A金相图像分析仪 测量 晶粒度 渗碳层 剥层化学 |
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