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高次插值的龙格现象的测试
引用本文:朱琪.高次插值的龙格现象的测试[J].湖南科技学院学报,2005,26(11):206-208.
作者姓名:朱琪
作者单位:湖南科技学院,信息与计算科学系,湖南,永州,425006
摘    要:介绍高次插值中龙格现象的产生,并就牛顿插值,利用计算机程序来测试出现龙格现象,给出了相应的算法实现.

关 键 词:牛顿插值  测试  程序  龙格现象
文章编号:1673-2219(2005)11-0206-03
收稿时间:09 23 2005 12:00AM
修稿时间:2005年9月23日

The Runger phenomenal test of the high order interpolation
ZHU qi.The Runger phenomenal test of the high order interpolation[J].Journal of Hunan University of Science and Engineering,2005,26(11):206-208.
Authors:ZHU qi
Institution:Hunan University of Science and Engineering, YongZhou Hunan 425006, China
Abstract:Introduced in the higher-order interpolation the Runger phenomenon production, and on the Newton interpolation, comes using the computer program, the test appears of the Runger phenomenon, has produced the corresponding algorithm realization.
Keywords:Newton's Interpolation  Test  Algorithms  Runger
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