| 高密度电阻率法在敦煌莫高窟水汽调查中的初步应用 |
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| 引用本文： | 郭青林,王旭东,李最雄,小泉圭吾,谷本亲伯,舛屋直.高密度电阻率法在敦煌莫高窟水汽调查中的初步应用[J].家教指南,2008(6). |
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| 作者姓名： | 郭青林 王旭东 李最雄 小泉圭吾 谷本亲伯 舛屋直 |
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| 作者单位： | 郭青林,王旭东,李最雄,GUO Qinglin,WANG Xudong,LI Zuixiong(西部灾害与环境力学教育部重点实验室,兰州大学,甘肃,兰州,730000;古代壁画保护国家文物局重点科研基地,敦煌研究院,甘肃,敦煌,736200;敦煌研究院保护研究所,甘肃,敦煌,736200);小泉圭吾,谷本亲伯,舛屋直,Keigo Koizumi,Chikaosa Tanimoto,Tadash Musuya(日本大阪大学工学院,日本,大阪) |
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| 基金项目： | 西部灾害与环境力学教育部重点实验室(兰州大学)开放基金，敦煌研究院与日本大阪大学合作项目 |
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| 摘 要： | 敦煌莫高窟壁画受自身材质和自然环境等的影响,产生起甲、酥碱、空鼓、壁画大面积脱落等多种病害,多项研究已经证明,这些病害主要是由水盐运移导致的,而水汽是激活和导致盐分运移的主要因素.我们使用高密度电阻率法对石窟围岩状况、莫高窟窟前林带区和崖顶降水入渗前后进行了现场测定,结果表明:(1)莫高窟后部崖体从表面到深度100m的地层不存在自由水;(2)莫高窟窟前林带灌溉水通过表层堆积物向崖面渗透,使洞窟岩体内的水汽含量增高,有激活盐分的可能;(3)少量的降水依然能以较慢的速度通过渗透性较好的地层或崖体裂隙渗透到洞窟的顶部,激活岩体和地仗内的盐分,导致壁画病害的发生.
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| 关 键 词： | 莫高窟 高密度电阻率法 水汽调查 |
Elementary application of the high density resistivity method in investigation of moisture at Mogao Grottoes |
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| Authors: | GUO Qinglin WANG Xudong LI Zuixiong Keigo Koizumi Chikaosa Tanimoto Tadash Musuya |
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