| 中美纳米传感器技术专利申请对比研究 |
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| 引用本文： | 郑佳,雷孝平,赵蕴华,崔伟.中美纳米传感器技术专利申请对比研究[J].科技管理研究,2011(19). |
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| 作者姓名： | 郑佳 雷孝平 赵蕴华 崔伟 |
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| 作者单位： | 中国科学技术信息研究所,北京,100038 |
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| 摘 要： | 以德温特专利数据库收录的1962 -2009年间在中国和美国申请的纳米传感器技术专利为研究对象,通过对专利在年度分布、公司分布、应用领域分布等方面的计量分析,对中美两国纳米传感器技术创新现状和发展趋势进行全面分析与比较,从而为我国政府、科研机构与企业制定纳米传感器技术科技发展计划、开展相关技术研发等提供决策支持与事实依据.
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| 关 键 词： | 美国 中国 纳米传感器技术 专利 |
Sino -US Comparison on Nano -sensor Technology Patent Applications |
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| ZHENG Jia,LEI Xiaoping,ZHAO Yunhua,CUI Wei.Sino -US Comparison on Nano -sensor Technology Patent Applications[J].Science and Technology Management Research,2011(19). |
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| Authors: | ZHENG Jia LEI Xiaoping ZHAO Yunhua CUI Wei |
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