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| 智能数字芯片检测仪的研制 | |
| 引用本文： | 关善亮,孔银鸽,苗家旺,张启升.智能数字芯片检测仪的研制[J].中国科技信息,2009(11). |
| 作者姓名： | 关善亮 孔银鸽 苗家旺 张启升 |
| 作者单位： | 中国地质大学地下信息探测技术与仪器教育部重点实验室,100083 |
| 基金项目： | 中国地质大学(北京)大学生创新性实验计划专项基金 |
| 摘 要： | 为解决在科研和商业活动中需对芯片是否损坏进行检测的问题，设计由上位Pc机软件和检测端组成的智能数字芯片检测仪。检测端由单片机AT89S52数据处理模块、复杂可编程逻辑器件（CPLD）EPM5256待浏芯片控制模块、双通道24位模数转换芯片（A／D）CS5550采样电路、电可擦写可编程只读存储器（EEPROM）AT24C08存储电路、LED显示电路和过流保护电路组成。检测端具备与上位Pc机串口通信功能，通过上住机软件用户可以自行更新、编辑待测芯片库，检测端可以脱离上位机，同时对两个48管脚以内双列直插式（DIP）封装的数字芯片进行检测。 |
| 关 键 词： | 芯片检测仪 单片机 复杂可编程逻辑器件 串口通信 |
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