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| X射线荧光光谱法在光谱半定量分析中的应用 | |
| 引用本文： | 赵兰芳,董永胜,井卫华,程泽.X射线荧光光谱法在光谱半定量分析中的应用[J].内蒙古科技与经济,2012(2):130-131. |
| 作者姓名： | 赵兰芳 董永胜 井卫华 程泽 |
| 作者单位： | 1. 内蒙古乾坤金银冶炼厂 2. 内蒙古第三地质勘查公司 3. 内蒙古国土资源勘查开发院 4. 内蒙古矿产实验研究所,内蒙古呼和浩特,010000 |
| 摘 要： | 采用粉末压片制样,对样品进行10°～148°2θ扫描测定,根据其角度不同定性,依据其强度大小定量,结合软件中的库样品成分,给出半定量结果.方法经大批样品的分析验证,其分析结果可靠,方法的检出限、精密度、准确度均满足质量管理的要求. |
| 关 键 词： | X射线荧光光谱 半定量 地质 冶金 环境监测 |
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