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用分光计观察入射角变化时的等倾干涉图样
引用本文:司民真,岳开华.用分光计观察入射角变化时的等倾干涉图样[J].楚雄师范学院学报,2002,17(3):38-39.
作者姓名:司民真  岳开华
作者单位:云南省楚雄师范学院物理系,675000
摘    要:在分光计上可观察到等倾干涉图样随入射我不同而变化的现象,本文介绍观察这一现象的方法,并对此现象的成因作简要分析。

关 键 词:分光计  入射角  等倾干涉图样  光学平行平板
文章编号:1671-7406(2002)03-0038-02
修稿时间:2002年1月9日

Spectrometer method for observing interference pattern of equal inclination
Si Minzhen,Yue Kaihua.Spectrometer method for observing interference pattern of equal inclination[J].journal of chuxiong normal university,2002,17(3):38-39.
Authors:Si Minzhen  Yue Kaihua
Abstract:In this paper,a spectrometer method for observing the phenomenon that involves the change of interference pattern of equal inclination with different incident angle is introduced,and a concise analysis of the formation cause of the phenomenon is given
Keywords:spectrometer  incident angle  interference pattern of equal inclination
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