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| X射线荧光光谱分析法在钨矿检测中的应用 | |
| 引用本文： | 刘贵宾,陈立群.X射线荧光光谱分析法在钨矿检测中的应用[J].科技风,2015(11). |
| 作者姓名： | 刘贵宾 陈立群 |
| 作者单位： | 云南省腾冲县恒瑞矿石测试中心,云南保定,679100 |
| 摘 要： | 为提高钨精矿的测试效率和精度,本文采用X射线荧光光谱分析法对试验样品进行检测。通过钨精矿样品选择、处理,经基体效应校正后,采用误差、相对标准偏差和检出限对测试结果进行评价,结果表明,X射线荧光光谱分析法在钨矿检测中具有准确性好、精密度高的优点。 |
| 关 键 词： | X射线荧光光谱 钨 基体效应 |
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