存储器故障测试算法分析与研究 |
| |
引用本文: | 宋建磊,许航,陆祥磊.存储器故障测试算法分析与研究[J].信息系统工程,2023(5):135-137. |
| |
作者姓名: | 宋建磊 许航 陆祥磊 |
| |
作者单位: | 贵州航天计量测试技术研究所 |
| |
摘 要: | 存储器应用广泛,使用量大,发展迅速,随着近年来存储芯片容量不断增大,故障检测难度与成本也逐渐上升。从存储器的故障模型和测试技术出发,对比分析了不同测试算法的特点,以便在实际检测中选择合理的测试算法,同时提出了一种改进型的测试算法,在基本不改变测试时间长度的情况下增加了故障检测类型,是一种简单可行的方法。
|
关 键 词: | 存储器 测试算法 故障 |
|
|