|
|||||
|
|
| 数字电路的测试生成方法 | |
| 引用本文： | 潘中良,张光昭.数字电路的测试生成方法[J].中山大学学报论丛,1997(5). |
| 作者姓名： | 潘中良 张光昭 |
| 作者单位： | 中山大学无线电电子学系 |
| 摘 要： | 随着集成电路设计及工艺技术的发展，电路的测试已成为集成电路设计与生产的重要组成部分．讨论了电路的测试及故障检测中的一些问题，对数字电路测试生成的主要算法的性能进行了详细分析，并研究了电路测试技术的发展趋势 |
| 关 键 词： | 数字电路，故障检测，测试生成，算法性能分析 |
The Study of Test Generation Algorithms for Digital Circuits |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | digital circuits fault detection test generation algorithm performance |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |