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| X射线珍珠珠层厚度无损检测仪夹具的改进研究 | |
| 引用本文： | 谢姗姗明丁毋时毋时.X射线珍珠珠层厚度无损检测仪夹具的改进研究[J].大众科技,2011(9):127-128. |
| 作者姓名： | 谢姗姗明丁毋时毋时 |
| 作者单位： | 广西产品质量监督检验院,广西南宁,530022 |
| 摘 要： | 珍珠珠层厚度能无损、快速、广泛推广的检测方法目前主要有X射线法和光学相干层析法。X射线珍珠珠层厚度无损检测仪具有较强的穿透能力，其适用范围更加广泛。因X射线珍珠珠层厚度无损检测仪夹具设计上的不够合理，不能快速找出不同大小尺寸珍珠的几何中心。在夹具的设计上进行改进，提高了工作效率及仪器的精度。 |
| 关 键 词： | X射线珍珠珠层厚度无损检测仪 夹具 改进 |
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