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| 超短碳纳米管电学性能研究取得进展 | |
| 摘 要： | 苏州纳米技术与纳米仿生所陈立桅研究组长期从事单壁碳纳米管的电学性能研究。在最新的工作进展中，他们利用介电力显微镜成像技术，克服了传统方法检测超细超短纳米材料电学性能的困难。首次通过检测低频介电极化响应研究了不同长度单壁碳纳米管的导电性能。研究结果表明，金属性单壁碳纳米管的电导率对长度的依赖性较大，而半导体性单壁碳纳米管则相对较小。 |
| 关 键 词： | 单壁碳纳米管 电学性能 超短 通过检测 纳米技术 成像技术 纳米材料 传统方法 |
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