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| 多孔氧化银电极中残留氢氧根离子浓度的研究 | |
| 摘 要： | 试验通过恒电流极化方法,对多孔氧化银电极内残留的氢氧根离子(OH~-)浓度做一个半定量的分析。试验结果表明,在50℃,恒电流密度0.62A/cm~2时,氢氧化钠浓度为2.14mol/L,氧化银电极中残留OH~-浓度随时间的变化为:y=1.92+1.91x~(0.5)。氢氧化钠浓度为3.83mol/L时,氧化银电极中残留OH~-浓度随时间的变化为:y=3.32+2.11x~(0.5)。 |
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