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基于断言的nandflash功能验证
引用本文:段理,游敏惠,郑建宏.基于断言的nandflash功能验证[J].黑龙江科技信息,2008(1):67-68.
作者姓名:段理  游敏惠  郑建宏
作者单位:重庆邮电大学3G研究院,重庆,400065
摘    要:在目前功能性睦证技术中通常使用的是基于约束的随机测试。这只是解决了验证测试平台中的输入激励问题,但存在难以定位错误的缺点,在本文中把断言技术运用在基于约束的随机测试层次化(rvm)设计平台中。通过实时监控待验证的模块的接口信号,增强了debug能力;减小了验证工作量,并且以nandflash接口模块为例,用实际的验证表明可以缩短验证的时间,加快验证的进度。

关 键 词:断言  功能性验证  Systerm  Verilog  nandflash控制器
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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