| 数字IC测试仪测试向量与编码方法研究 |
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| 引用本文： | 孙承庭,朱春江.数字IC测试仪测试向量与编码方法研究[J].连云港职业技术学院学报,2010,23(4):9-10. |
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| 作者姓名： | 孙承庭 朱春江 |
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| 作者单位： | 连云港职业技术学院; |
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| 摘 要： | 针对数字IC电路逻辑功能、真值表不同,芯片参数数据库向量编码复杂的问题,设计并解决了数字实验中常用20脚以内的数字IC测试仪最为关键的测试向量及其编码问题。
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| 关 键 词： | 逻辑功能 真值表 测试向量 编码 |
On Testing Vector and Encoding Method of Digital IC Tester |
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| SUN Cheng-ting,ZHU Chun-jiang.On Testing Vector and Encoding Method of Digital IC Tester[J].Journal of Lianyungang Technical College,2010,23(4):9-10. |
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| Authors: | SUN Cheng-ting ZHU Chun-jiang |
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| Institution: | SUN Cheng-ting,ZHU Chun-jiang(Lianyungang Technical College,Lianyungang 222006,China) |
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| Abstract: | According to the digital IC circuit logic function,different truth tables,complex vector coding of chip parameter database,the paper manages to solve the problems such as the vital testing vector and coding of within 20-chip digital IC tester in digital experients. |
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| Keywords: | logic function truth tables testing vector code |
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