基于正交调制的频率特性测量系统改进设计 |
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作者单位: | ;1.黄河科技学院信息工程学院;2.解放军信息工程大学信息系统工程学院 |
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摘 要: | 对基于正交调制的频率特性测量系统做了优化设计。基于扫频信号源频率输出范围为100kHz~40 MHz。为提高扫频精度,扫频模式分为全频扫描和分段扫描,频率分辨率有1kHZ和10kHZ两种;为满足不同测量网络需求以及提高测量精度,设计了程控增益放大电路,其增益可调范围为数学34dB~14dB,增益步进值为4dB,使得放大器输出信号幅度满足20mV~5V要求;采用有效消除噪声的方法进一步提高了系统测量精度。改进后的测试系统幅频特性测量误差小于0.5dB,相频特性测量精度优于2°。
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关 键 词: | 频率特性 FPGA 正交调制 程控增益 |
Improved design of frequency characteristic measurement system based on quadrature modulation |
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