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| 静态CMOS电路桥接故障可测性研究 | |
| 引用本文： | 张新林,胡谷雨.静态CMOS电路桥接故障可测性研究[J].怀化师专学报,2000,19(2):37-39. |
| 作者姓名： | 张新林 胡谷雨 |
| 作者单位： | [1]零陵师专，湖南永州425000 [2]上海大学图书馆，上海嘉定201800 |
| 摘 要： | IDDQ测试方法是最适合CMOS电路桥接故障的测试，给出CMOS电路IDDQ测试的几个基本概念，探讨了桥接故障IDDQ可测性条件，从理论上证明了静态CMOS电路线结点桥接故障的IDDQ可测性。 |
| 关 键 词： | 线结点 桥接故障 输入激励 故障激活 静态CMOS电路 IDDQ测试 守合测试集 可测性 |
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