基于STM32与DDS技术的频率特性测试仪 |
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引用本文: | 胡启斌,张顺,谷诗萌.基于STM32与DDS技术的频率特性测试仪[J].科技风,2015(4):127. |
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作者姓名: | 胡启斌 张顺 谷诗萌 |
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作者单位: | 成都理工大学,四川成都,610059 |
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摘 要: | 针对快速、便携、低成本对信号及网络频率特性测量的需求,研制了一台信号测量设备,该设备以STM32F103ZET6为处理器,运行u COS-III系统,扫频信号由AD9850芯片产生,当信号通过被测网络后,经过以AD8302芯片为核心的幅度和相位检测电路,被处理器片内ADC进行采集后送入系统处理。
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关 键 词: | 示波器 频率特性 FFT DDS STM32 |
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