|
|||||
|
|
| 交线法分析平面度检定中的干涉条纹 | |
| 引用本文： | 赵永才.交线法分析平面度检定中的干涉条纹[J].物理教学探讨,2005,23(15):23-24. |
| 作者姓名： | 赵永才 |
| 作者单位： | 绍兴,鲁迅中学,浙江省,绍兴市,312000 |
| 摘 要： | 对于用干涉法检测光学平面的平整程度,中学教材中一般只提及“如果被测表面是平的,干涉条纹就是一组平行的直线,如果干涉条纹发生弯曲,就表明被测表面不平。”那么干涉条纹的凹凸弯曲反映被测平面的何种平整缺陷?常见的平整缺陷又会使干涉条纹弯曲成何形状?中学阶段还不具备定量研究的理论知识,我们可以用交线法,辅以几何知识,定性研究条纹的形状及变动。交线法原理:干涉法检测平面光洁度的装置如图1所示,当单色光从上面照射,样板下平面与被检平面的反射光将发生干涉,同一干涉条纹处的空气膜厚度是相等的。我们把薄膜上厚度相等的各点的轨迹… |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |