| 智能仪表的可靠性设计 |
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| 引用本文： | 杨林国,姜印平.智能仪表的可靠性设计[J].安徽职业技术学院学报,2003,2(3):7-8,14. |
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| 作者姓名： | 杨林国 姜印平 |
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| 作者单位： | 天津大学自动化学院,天津,300072 |
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| 摘 要： | 本文从智能仪表的设计阶段 ,提出了提高仪表可靠性的几种措施
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| 关 键 词： | 智能仪表 可靠性 单片机 |
| 文章编号： | 1671-7279(2003)03-0007-02 |
| 修稿时间： | 2003年8月21日 |
The Design of the Reliability for Intelligent Instruments |
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| Yang Lin-guo,Jiang Yin-ping.The Design of the Reliability for Intelligent Instruments[J].Journal of Anhui Vocationcal Technical College,2003,2(3):7-8,14. |
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| Authors: | Yang Lin-guo Jiang Yin-ping |
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| Abstract: | This text has proposed several measures to improve the reliability from the design stage of intelligent instrument. |
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| Keywords: | intelligent instrument reliability microcontroller |
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