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| 数字电路冗余故障测试产生算法研究 | |
| 引用本文： | 门玉峰.数字电路冗余故障测试产生算法研究[J].科协论坛,2008(12). |
| 作者姓名： | 门玉峰 |
| 作者单位： | 辽宁大学信息学院 |
| 摘 要： | 数字电路中的冗余故障会导致电路面积、延迟、功耗的增加,而且对于多个固定型故障,如果多个故障中的一个是冗余的,则冗余故障的出现可能屏蔽其他可测试故障的存在,而冗余故障却不能被传统测试方法检测出。如果能够找到某种检测冗余故障的有效方法,那将会对提高电路性能产生积极作用。本文则详细对数字电路冗余故障测试产生算法进行了研究。 |
| 关 键 词： | 冗余故障 测试产生算法 模拟结果及分析 |
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