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| 集成电路IC卡抗静电放电试验的历史沿革 | |
| 引用本文： | 丁煜.集成电路IC卡抗静电放电试验的历史沿革[J].中国科技信息,2011(7):154-155. |
| 作者姓名： | 丁煜 |
| 作者单位： | 国家电子计算机质量监督检验中心,100083 |
| 摘 要： | 集成电路IC卡在日常携带和使用过程所面临的人体静电的破坏,造成无法估量的损失,IC卡研发生产企业、质量监督检验部门、国际、国家标准制定部门携起手来,通过这些年的不懈努力,为IC卡产品质量的不断提高作出了应有贡献。 |
| 关 键 词： | IC卡（Integrated Circuit Card） 人体模型（Human Body Model-HBM） RC电路 静电放电（Electrostatic Discharge-ESD） |
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