芯片功耗的来源与量化分析 |
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引用本文: | 薛巨峰,谢菲,范东溟.芯片功耗的来源与量化分析[J].中国科技信息,2005(11):67-67. |
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作者姓名: | 薛巨峰 谢菲 范东溟 |
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作者单位: | 1. 东北林业大学 2. 新华通讯社通信技术局 |
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摘 要: | 1,芯片功耗的主要来源C M O S电路中功耗的分布可以分为两部分,由漏电和其它静态电流导致的静态功耗和由短路电流和对负载电容充放电引起的动态功耗。这两部分中共有三种最主要的电能消耗形式:跳变损失、短路损失、漏电损失。2,跳变损失跳变损失是由电容的充放电引起的,这部分功耗在整个电路中占控制地位在0.18μm工艺水平下,这部分功耗占处理器总功耗的70~80%。图1描述了对于一个最简单的反向器电路跳变损失发生的全过程,其中Cload表示电容。图1由反向器看跳变损失的过程让我们考虑输入信号出现两次变换的一个完整的时钟周期,如图(a)。…
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关 键 词: | 量化分析 芯片 CMOS电路 动态功耗 负载电容 短路电流 静态功耗 电能消耗 充放电 漏电 |
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