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| 三维显微测量系统中的硬件抗干扰措施 | |
| 引用本文： | 闻浩,高健,万晓新.三维显微测量系统中的硬件抗干扰措施[J].科技风,2011(7). |
| 作者姓名： | 闻浩 高健 万晓新 |
| 作者单位： | 沈阳同联集团高新技术有限公司,辽宁,沈阳,110041 |
| 摘 要： | 本文介绍的是用于保障三维显微测量系统测试精度的一揽子硬件抗干扰措施,旨在逐个解决电源干扰、电磁干扰及电磁兼容性以及静电释放等系统问题. |
| 关 键 词： | 硬件 抗干扰 电源干扰 电磁干扰 电磁兼容性 静电释放 |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |
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