首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     检索      

基于蚁群算法的最小电路测试集生成算法
引用本文:李瑞娟.基于蚁群算法的最小电路测试集生成算法[J].柳州职业技术学院学报,2011,11(2):26-30.
作者姓名:李瑞娟
作者单位:柳州职业技术学院,广西柳州,545006
基金项目:广西教育厅科研立项项目“基于重构技术的电路故障测试诊断研究”(200911LX492)
摘    要:为了提高电路故障的测试速度和精度.在现有的传统故障测试集生成算法的基础上,引入蚁群生物的路径规划策略,设计一种基于蚁群算法的电路故障最小测试集生成算法。详细阐述蚁群算法的设计思想,给出数字电路测试问题向蚁群规划问题的转换过程,包括基于蚁群算法的最小测试集生成流程。并对设计的电路故障最小测试集生成算法进行了理论上的性能分析和实际的测试验证,测试结果表明该算法具有较高的综合效率。

关 键 词:电路故障  蚁群算法  测试集  最小化  效率

The Smallest Circuit Testing Collection Production Algorithm Based on Ant Group Algorithm
LI Rui-juan.The Smallest Circuit Testing Collection Production Algorithm Based on Ant Group Algorithm[J].Journal of Liuzhou Vocational & Technical College,2011,11(2):26-30.
Authors:LI Rui-juan
Institution:LI Rui-juan(Liuzhou Vocational & Technical College,Liuzhou Guangxi 545006,China)
Abstract:Has deeply research electric circuit breakdown test collection production algorithm in digital circuit test process.In order to enhance the test speed and the precision for electric circuit breakdown.Based on the existing tradition failure test collection production algorithm,has introduced the ant group biology way plan strategy,has designed one kind electric circuit breakdown smallest test collection production algorithm based on the ant group algorithm.Elaborated in detail the ant group algorithm design ...
Keywords:electric circuit breakdown  ant group algorithm  test collection  minimum  efficiency  
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号