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Wafer-level SLID bonding for MEMS encapsulation
Authors:H  Xu T Suni  V  Vuorinen J Li  H  Heikkinen P Monnoyer  M  Paulasto-Krockel
Abstract:(MEMS)bondingDefects Micro electronic mechanical systemSolid-liquid interdiffusion (SLID)Transient liquid-phase (TLP) bondingShear test Reliability
Keywords:(MEMS)bondingDefects Micro electronic mechanical systemSolid-liquid interdiffusion (SLID)Transient liquid-phase (TLP) bondingShear test Reliability
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