| 利用等色干涉原理测量薄膜厚度 |
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| 引用本文： | 魏秀芳.利用等色干涉原理测量薄膜厚度[J].甘肃高师学报,2007,12(5):31-32. |
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| 作者姓名： | 魏秀芳 |
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| 作者单位： | 西北师范大学,甘肃兰州,730070;兰州城市学院,甘肃兰州,730070 |
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| 摘 要： | 文章讨论了等色干涉的原理,并利用该原理给出测量介质厚度的方法.
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| 关 键 词： | 等色干涉 薄膜厚度 |
| 文章编号： | 1008-9020(2007)05-031-02 |
| 修稿时间： | 2007年3月28日 |
Using theory of isochromatic interference measure film thickness |
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| Wei Xiufang.Using theory of isochromatic interference measure film thickness[J].Journal of Gansu Normal College,2007,12(5):31-32. |
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| Authors: | Wei Xiufang |
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| Abstract: | In this paper,we studytheoryofisochromatic interference,and give a wayabout using this theorytomeasure filmthickness. |
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| Keywords: | Isochromatic interference film thickness |
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