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IDDQ测试方法是最适合CMOS电路桥接故障的测试，给出CMOS电路IDDQ测试的几个基本概念，探讨了桥接故障IDDQ可测性条件，从理论上证明了静态CMOS电路线结点桥接故障的IDDQ可测性。 相似文献
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本文介绍了 IDDQ测试的基本原理 ,探讨了 IDDQ测试方法在对静态 CMOS电路测试时的重要特征 ,展示了 IDDQ测试的优越性 相似文献
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模拟或混合集成电路设计过程早期 ,应充分考虑电路的可测性。CMOS图像传感器系统集成A/D转换器设计中 ,每级 1.5位结构流水线A/D转换器适合于高分辨率、高速应用 ,同时具有良好的可测性。另外 ,位串行A/D转换器结构也具有较好的可测性 ,可应用于CMOS图像传感器系统 相似文献
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模拟或混合集成电路设计过程早期，应充分考虑电路的可测性。CMOS图像传感器系统集成A／D转换器设计中，每级1.5位结构流水线A／D转换器适合于高分辨率、高速应用，同时具有良好的可测性。另外，位串行A／D转换器结构也具有较好的可测性，可应用于CMOS图像传感器系统。 相似文献
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集成电路芯片已经成为现代电子设备中大量使用的电子元器件,集成电路芯片的检测是电子设备故障排除中的一项重要工作.建立了固定型故障模型,并以HT46RU24为核心设计一种数字芯片测试仪,通过测试码控制并测试硬件的运行情况,把测试结果与准确值比较,自动给出正误判断的结果.该仪器能完成20脚以内TTL系列和CMOS系列数字集成电路芯片的测试,并带有网络通信接口.实践证明,该仪器具有体积小、重量轻、成本低、人机界面友好、操作方便和可靠性高等优点,具有较高的实用价值. 相似文献
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利用CMOS参数诊断和排除微机故障 总被引：2，自引：1，他引：1
金军 《实验室研究与探索》1999,18(3):82-84
本文介绍了利用CMOS参数的设置来判断和排除微机故障的方法,并以三个实例作了具体说明. 相似文献
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刘永勤 《渭南师范学院学报》2012,(12):44-45,52
设计了一种S型桥接电磁带隙结构,并将S型桥接电磁带隙结构与传统的平行板以及L型桥接电磁带隙结构进行了比较.分析结果表明:采用S型桥接电磁带隙结构不仅提高了抑制噪声的带宽,而且可减少本地去耦电容器的数目. 相似文献
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确定电子设备故障症状的故障区域的正确方法，是现代电子测试检修技术的关键。本文介绍两个重要的测试检修内容。 相似文献
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本文通过在煤矿自适应微机电流速断保护中故障分量原理的研究,提出了故障分量在计算系统阻抗中的应用方法,并探讨了其在煤矿自适应微机电流速断保护应用的优越性. 相似文献
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为了以较低成本提高电缆故障点的定位精度,并且使测试结果更加直观,设计了一种具有波形复现功能的电缆故障测试仪,该测试仪采用时域脉冲反射原理进行电缆故障点定位.测试时,首先将电磁脉冲加载到待测电缆,依据相应高速比较器的参考电压将测试脉冲波形二值化获得单次测试位流数据,然后将参考电压由高到低逐次扫描所得位流数据依次排列,重构并复现测试脉冲波形,进而可以得到电缆脉冲衰减特性、短路故障、断路故障及故障位置的诊断.实验测试结果表明,该测试仪能够有效测定电缆的故障类型和位置,测试结果直观. 相似文献
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利用准精确惩罚函数法构造出价格函数,并且采用自适应遗传算法,进行电路级综合,以获得全局最优解。实验结果表明:利用本方法可以快速设计出满足性能指标的CMOS运算放大器。 相似文献
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数字集成电路是处理数字信号的电子电路,因具有很多优点而被广泛的应用。常用有TTL、CMOS集成电路两大类。本文对使用TTL、CMOS集成电路的一般规则,正确使用方法作了详细介绍。 相似文献
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语用照应是言语交际中一种常见的语言现象,其推理过程对交际效果起着重要作用,而人们的认知推理能力对理解它有很大影响。关联理论作为一种有效的语用阐释理论,同样可以运用于解释语用照应。根据有声思维实验中的实例,结合关联理论对语用照应理解中的语用推理进行阐释,从而验证了关联理论的阐释力。 相似文献
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本文设计的数字信号源变换电路,是在方波信号源基础上的开发与应用,主要由串联检波电路、放大与输出电路组成.变换电路输入方波交流脉冲信号,经过串联检波电路,方波信号负峰值Vp-得到抑制、正峰值Vp+予以保留,得到两个直流脉冲(检波)信号,再经放大与输出电路放大,输出TTL、CMOS数字信号,可满足数字电路的测量、实验要求. 相似文献
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对BCD码-十进制译码器74LS145的思考与应用探究 总被引：1，自引：0，他引：1
王文江 《黔南民族师范学院学报》2007,27(6):53-55
因数字电路BCD码-十进制译码器芯片74LS145内部逻辑电路图不够清楚,很多参考资料都没有明确说明其输出级4输入与非门是OC门,导致初学者应用时容易出错。本文结合教学工作中遇到的实际问题,进行了思考和研究,给出了具体的实验改进电路,供同行参考。 相似文献