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UV覆盖是光学综合孔径成像技术中一个关键环节,它决定于孔径阵列的排列情况,且影响到后续的图像恢复工作,所以,必须对UV覆盖进行优化,但优化标准目前尚未确定.本文利用统计的方法从研究图像频谱的高低频特性入手,从对不同方式下UV覆盖对后续的图像恢复造成的影响情况的分析比较,进行优化标准的初步研究与探讨. 相似文献
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张仙玲 《新课程学习(社会综合)》2011,(4)
试卷讲评重在查漏补缺,通过对前一段学习的检测,从中发现问题有助于教师改进教学方法,提高教学效率.通过讲评也能使学生掌握解决问题的能力. 相似文献
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